OnPoint BSE 探测器
扫描电镜探头和控制系统
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DigiScan II 系统
3View 系统
连续切片成像
冷冻样品台
SEM样品台
Ilion II 系统
SEM样品制备
PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统
Murano 原位实验样品台
Gatan Microscopy Suite 软件
SEM分析软件