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科扬国际贸易  Gatan 
Ilion II 系统

Ilion II 系统

采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品

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采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品

优点: 
  • 利用样品交换室和液氮冷却载物台，为电子束敏感样品定制了快速工作流程
  • 对抛光过程进行实时观察，期间使用了带数字成像功能的光学显微镜。可利用 Gatan 的 DigitalMicrograph® 软件存储和分析图像
  • 10 英寸彩色触摸屏界面显示 Ilion™ II 配方，确保操作中得到可重复的结果
  • 极其适用制备阴极发光和 EBSD 等分析技术的无损表面，因为这些分析信号在样品的极表面产生
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