利用原位加热测试样品台可实现动态显微结构观察，并可为材料研究带来新的见解

• 模块化设计，用于扫描电子显微镜 (SEM) 
• 通过自定义设计，可在 SEM 样品台上快速安装和拆卸，拆除后不影响SEM的正常工作
• 充分考虑与其它探头（包括EBSD 在内）配合工作的几何关系，可以实现动态观察

Murano 加热样品台

• Murano 样品台用于 EBSD 应用时可加热至 950 °C，用于二次电子探测器 (SED) 成像时可加热至 1250 °C
• 研究最高 950 °C 高温下的实时结晶和相变情况 
• 采用专有设计，可实现离线安装和存储样品
• 专有的样品安装方式，可完美配合 EBSD/聚焦离子束 (FIB)/二次电子模式下的
• 水冷却和热防护屏蔽可确保在高温条件下实现高水平的保护
• 采用额外的偏压控制，为高温条件下的成像提供帮助