TEM 分析样品杆适用于基本的成像和分析应用，例如对 TEM 样品的电子衍射和 X 射线能谱法 (EDS) 分析。
-
样品压片为铍金属，可尽量减少不必要的 杂散X 射线信号
-
样品杆头部的几何形状与 TEM 极靴配置相符，以减少 EDS 信号的遮挡
-
为了便于 X 射线定量分析，非旋转的样品杆配有一个小法拉第杯，位于样品杆尖头处
-
不可旋转的样品杆可以安装电极
|
型号
|
铍支架
|
样品定位
|
样品固定
|
电动控制
|
法拉第杯
|
最大引电极数（选配）
|
|
643
|
标准
|
α 倾斜
|
Hexring® 机制
|
|
标准
|
6
|
|
646
|
标准
|
α、β 倾斜
|
Hexring 机制
|
β 倾斜
|
标准
|
4 – 61
|
|
650
|
标准
|
α 倾斜和旋转
|
Hexring 机制
|
旋转
|
否
|
0
|
|
925
|
标准
|
α、β 倾斜和旋转1
|
Hexring 机制
|
|
否
|
0
|
1 JEOL UHR 需要 2–6 个，所有其他 EMM 需要 2–4 个
