在需要在多个样品中进行比较筛选的应用中，多头样品杆可极大程度的提高工作效率。

• 在环境温度或低温下操作，具体取决于样品杆型号
• 可互换的样品盒设计便于转移和储存脆弱的样品
• FIBBEM™ 机匣的一侧可以让离子束和活性气体与样品发生反应；后续可将机匣连接到样品杆，以便在 TEM 中进行观察

型号	样品倾转	样品固定	可互换的机匣	工作温度
677	α 倾斜	Hexring® 机制	是1、2	环境
677.FIB	α 倾斜	FIBBEM 暗盒	是1	环境
910	α 倾斜	Splitring® 机制	是3	低于-170 °C

¹ Hitachi 和 Zeiss TEM 的样品杆支持两个样品位置。FEI 和 Topcon TEM 的样品杆支持三个样品位置。JEOL TEM 的样品杆支持五个样品位置。
² 小极靴间隙配置没有可拆卸式暗盒。
³ Hitachi 和 Zeiss TEM 的样品杆支持两个样品位置。FEI、JEOL 和 Topcon TEM 的样品杆支持三个样品位置。