Continuum™ 系列产品是Gatan的全新一代电子能量损失谱（EELS）和能量过滤透射电子显微术（EFTEM）系统。Continuum系列产品在不牺牲系统强大功能与灵活性的同时，简化了能量损失系统的操作流程，将生产率与数据通量提升到新的高度。基于专有的全新的探测器系统而设计制造，Continuum为EELS和EFTEM应用提供了出色的探测速度与数据质量。

>10x 更高生产率

• >8000 谱每秒下 >95% 占空比
• >10x 更快系统调校
• 简洁的、基于工作流程的用户界面

革命性的数据质量

• 低噪声、高动态范围 CMOS 探测器
• 得益于全新 XCR™ 传感器堆叠技术，更好的 MTF 与 DQE 表现
• 各种采集模式下的全增益校正
• 特有的动态聚焦控制
• 可选配 K3™ 电子计数直接探测器，获取更高质量的EELS与EFTEM数据

新兴应用领域

• 能量过滤 4D STEM*
• 原位 EELS 与 EFTEM*
• 动量分辨 EELS*